Wiadomości Urzędu Patentowego 2008
Ogłoszenia o udzielonych prawach: patentach na wynalazki i świadectwach ochronnych na wzory użytkowe z dziedziny geodezji i kartografii i z dziedzin pokrewnych
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 12/2008
Dalmierz bazowy, zwłaszcza do pomiaru odległości do szybko przemieszczających się obiektów
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 200113 z dnia 2002 02 25
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 3/10 (2006.01);
Uprawniony z patentu: Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych, Warszawa (PL)
Twórcy: Chojnacki Dariusz, Gulewicz Andrzej, Suder Krzysztof, Spychała Jarosław, Szczepanik Ryszard
Urządzenie do pomiaru drgań i przemieszczeń obiektów oraz sposób pomiaru drgań i przemieszczeń obiektów
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 200061 z dnia 2002 01 24
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01H 9/00 (2006.01); G01B 9/00 (2006.01); G01B 11/16 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Politechnika Wrocławska, Wrocław (PL)
Twórcy: Kaczmarek Paweł, Budnicki Aleksander, Bereś-Pawlik Elżbieta, Abramski Krzysztof
Statyw, zwłaszcza do niwelatora
Nr świadectwa ochronnego i data zgłoszenia wzoru użytkowego: 64205 z dnia 2006 10 11
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 5/00 (2006.01); G01C 15/00 (2006.01)
Uprawniony z prawa ochronnego: Politechnika Opolska, Opole (PL)
Twórca: Anigacz Wojciech
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 11/2008
Statyw, zwłaszcza do łat niwelacyjnych
Nr świadectwa ochronnego i data zgłoszenia wzoru użytkowego: 64107 z dnia 2006 05 22
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 15/00 (2006.01); G01C 15/06 (2006.01)
Uprawniony z prawa ochronnego: Politechnika Opolska, Opole (PL)
Twórca: Anigacz Wojciech
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 8/2008
Przystawka do punktów geodezyjnych
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 199249 z dnia 2002 12 23
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 15/02 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Uniwersytet Przyrodniczy we Wrocławiu, Wrocław (PL)
Twórca: Ćmielewski Kazimierz
Sygnalizator celu punktu geodezyjnego
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 199250 z dnia 2002 12 02
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 15/02 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Uniwersytet Przyrodniczy we Wrocławiu, Wrocław (PL)
Twórca: Ćmielewski Kazimierz
Sposób wzorcowania łat niwelacyjnych z podziałem kodu kreskowego
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 199242 z dnia 2002 12 30
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 15/06 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Instytut Geodezji i Kartografii, Warszawa (PL)
Twórca: Toruński Andrzej
Rewersyjny pion celowniczy
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 199040 z dnia 2002 04 12
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 15/10 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Politechnika Opolska, Opole (PL)
Twórcy: Anigacz Wojciech, Ćmielewski Kazimierz
Pion celowniczy
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 199045 z dnia 2002 04 12
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 15/10 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Politechnika Opolska, Opole (PL)
Twórcy: Anigacz Wojciech, Ćmielewski Kazimierz
Libella optoelektroniczna
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 199248 z dnia 2002 12 20
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01C 9/06 (2006.01); G01C 9/12 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Uniwersytet Przyrodniczy we Wrocławiu, Wrocław (PL)
Twórca: Ćmielewski Kazimierz
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 6/2008
Sposób dwuetapowego uplastycznienia zdjęć lotniczych i zobrazowań satelitarnych wykonanych na północnej półkuli Ziemi
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 198182 z dnia 2001 08 14
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G06T 15/50 (2006.01); G01C 11/04 (2006.01); G01C 11/26 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Instytut Geodezji i Kartografii, Warszawa (PL)
Twórca: Rudnicki Waldemar
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 5/2008
Sonda do lokalizacji podziemnych instalacji metalowych
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 198145 z dnia 2002 02 04
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01V 3/10 (2006.01); G01V 3/18 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki, Kraków (PL)
Twórcy: Piasek Zbigniew, Nawrocki Wiesław
Wiadomości Urzędu Patentowego nr 2/2008
Układ interferometru, zwłaszcza do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych
Nr patentu i data zgłoszenia wynalazku: 197119 z dnia 2002 06 05
Międzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP): G01B 9/02 (2006.01)
Uprawniony z patentu: Politechnika Warszawska, Warszawa (PL)
Twórca: Dobosz Marek